背景：隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展，以電子產(chǎn)品對(duì)外輻射干擾（EMI）為重，鐵路、電力等行業(yè)已明確提出技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)并要求強(qiáng)制執(zhí)行。
用途：用于電子產(chǎn)品、重要器件的EMI干擾分析?？煽焖?、準(zhǔn)確定位干擾源和輻射路徑；分析強(qiáng)度分布；問題產(chǎn)品改進(jìn)前后對(duì)比分析。
目的：此設(shè)備有效提供EMI量化分析的實(shí)用手段，是產(chǎn)品研發(fā)中分析、改進(jìn)、達(dá)標(biāo) 、品質(zhì)的有力保障工具，極大提高了開發(fā)效率。

核心功能

1、寬頻掃描------粗掃描；識(shí)別產(chǎn)品EMI問題頻率
設(shè)定掃描區(qū)域與頻率范圍(9k～3.2GHz可自定義)進(jìn)行初步的寬頻率范圍掃描，并記錄各頻率的幅值，參考被測(cè)產(chǎn)品的現(xiàn)場(chǎng)使用標(biāo)準(zhǔn)，識(shí)別出EMI問題頻率。
2、單頻掃描成像----細(xì)掃描；定位干擾源及分析輻射情況
設(shè)定中心頻率到問題頻率附近，對(duì)被測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行細(xì)粒度移動(dòng)(如1mm移動(dòng)步距)的平面掃描，記錄問題頻率下的幅值，并將測(cè)量結(jié)果繪制成色溫圖，精確定位干擾源和分析輻射強(qiáng)度和范圍。

應(yīng)用場(chǎng)景

1、產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段可對(duì)PCB原型板的EMI性能進(jìn)行評(píng)估。在設(shè)計(jì)過程中及早識(shí)別EMI問題，有針對(duì)性地采取抑制措施，優(yōu)化設(shè)計(jì)。能夠有效減少成本，縮短研發(fā)周期。
2、產(chǎn)品審核階段對(duì)PCB產(chǎn)品進(jìn)行抽樣測(cè)試，以確保維持產(chǎn)品一致性。
3、幫助解決已有產(chǎn)品存在的EMI問題。幫助工程師快速定位問題和分析影響范圍，提高工作效率。

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